{"title":"A FUZZY APPLICATION OF X-R CONTROL CHARTS OF AN ALUMINUM PRODUCTION PLANT USING FUZZY TRIANGULAR NUMBERS","authors":"V. Arslan","doi":"10.22531/muglajsci.725550","DOIUrl":null,"url":null,"abstract":"Bu calismada, uretim surecini izlemek icin bulanik ortalama ve aralik kontrol grafikleri kullanilmistir. Bulanik kontrol cizelgeleri, belirli bir sure araliginda fabrikadan veri toplanmis ve fabrika tarafindan kullanilan Shewhart kontrol cizelgeleri ile karsilastirilmistir. Sonuclar, bulanik kontrol grafiklerinin Shewhart kontrol grafiklerine gore uretim surecindeki hatalari daha dogru bir sekilde tespit ettigi gorulmustur. Bu yontem, kaliteyi ve verimliligi artirmistir. Islem yetenegi endeksleri (PCI'ler), bir islemin tanimlanmis yetenek onkosulunu onaylayip onaylamadigina dair sayisal onlemler saglar. Bunlar, surecin sartname sinirlarini (SL'ler) ne kadar iyi karsiladigina karar verme yetenegini olcmek icin kullanilmistir. PCI'lar sirketler tarafindan kalite ve verimlilik performansini degerlendirmek icin uygulanmistir. X-R kontrol grafikleri kullanilarak yapilan bulanik proses yeterlilik analizi daha dogru sonuclar vermistir.","PeriodicalId":149663,"journal":{"name":"Mugla Journal of Science and Technology","volume":"59 1","pages":"0"},"PeriodicalIF":0.0000,"publicationDate":"2020-09-03","publicationTypes":"Journal Article","fieldsOfStudy":null,"isOpenAccess":false,"openAccessPdf":"","citationCount":"0","resultStr":null,"platform":"Semanticscholar","paperid":null,"PeriodicalName":"Mugla Journal of Science and Technology","FirstCategoryId":"1085","ListUrlMain":"https://doi.org/10.22531/muglajsci.725550","RegionNum":0,"RegionCategory":null,"ArticlePicture":[],"TitleCN":null,"AbstractTextCN":null,"PMCID":null,"EPubDate":"","PubModel":"","JCR":"","JCRName":"","Score":null,"Total":0}
引用次数: 0
Abstract
Bu calismada, uretim surecini izlemek icin bulanik ortalama ve aralik kontrol grafikleri kullanilmistir. Bulanik kontrol cizelgeleri, belirli bir sure araliginda fabrikadan veri toplanmis ve fabrika tarafindan kullanilan Shewhart kontrol cizelgeleri ile karsilastirilmistir. Sonuclar, bulanik kontrol grafiklerinin Shewhart kontrol grafiklerine gore uretim surecindeki hatalari daha dogru bir sekilde tespit ettigi gorulmustur. Bu yontem, kaliteyi ve verimliligi artirmistir. Islem yetenegi endeksleri (PCI'ler), bir islemin tanimlanmis yetenek onkosulunu onaylayip onaylamadigina dair sayisal onlemler saglar. Bunlar, surecin sartname sinirlarini (SL'ler) ne kadar iyi karsiladigina karar verme yetenegini olcmek icin kullanilmistir. PCI'lar sirketler tarafindan kalite ve verimlilik performansini degerlendirmek icin uygulanmistir. X-R kontrol grafikleri kullanilarak yapilan bulanik proses yeterlilik analizi daha dogru sonuclar vermistir.
京公网安备 11010802042870号
京ICP备2023020795号-1
分享
求助内容：
应助结果提醒方式：
扫码关注我们
