离子束-理论与实现

Franck Fortuna, Erwan Oliviero, M. Ruault
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Dans le premier cas, l'echantillon a etudier est la source de production des ions et l'analyse consiste a trier en masse les ions extraits, elle est alors destructive. Dans le second, l'analyse resulte de l'interaction d'un faisceau d'ions legers avec l'echantillon qui est alors la cible. Suivant la nature de l'analyse, differents types de detecteurs permettent de quantifier l'energie des particules diffusees par l'echantillon (fluorescence, retrodiffusion... ). Lorsque l'on utilise les faisceaux d'ions en tant qu'outils de modifications controlees des echantillons, plusieurs parametres (energie, flux, dose, nature du faisceau, temperature de la cible) sont ajustables suivant l'objectif recherche (creation de defauts, mise en ordre, synthese de nouvelles phases ou encore la modification des surfaces). 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摘要

离子束可以被看作是一种多功能的工具,用于研究新材料的合成以及复杂系统的结构和化学分析。它们的使用为实验人员通过相图提供了一个额外的参数:当光束被切割时,系统保持冻结(以淬火的方式)。在介绍了所涉及的物理现象(停止能力、缺陷的产生)之后,我们将在这里讨论离子束的实现(生产、质量分类、实验设备)。下面我们将区分两种使用离子束的方法,分析和合成。当离子束用于分析时,会出现两种类型的实验。在第一种情况下,要研究的样品是产生离子的来源,分析包括对提取的离子进行大规模分类,然后是破坏性的。在第二种情况下,分析是由一束轻离子束与目标样品相互作用产生的。根据分析的性质,不同类型的探测器可以量化通过样品扩散的粒子的能量(荧光,后向散射…)。当使用离子束作为控制样品修改的工具时,几个参数(能量、通量、剂量、光束性质、目标温度)可以根据研究目标进行调整(产生缺陷、排列顺序、合成新相或修改表面)。我们将描述用于产生光束的典型实验设备(源原理图)和样品环境,根据所寻求的应用(微电子、光学、机械)。在稍后的一篇文章中,我们将主要讨论离子束作为控制和修改材料的工具,无论是否进行分析。我们将介绍几种结合这两种模式(材料分析和受控改性)的装置,从而提供对新材料合成的现场研究。显然,离子束的实现和使用是一个非常广泛的知识领域。本文的目的是提供理解离子/物质相互作用所需的基础知识,并通过实例对该领域进行概述,而不是试图详尽无遗。
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Faisceaux d’ions - Théorie et mise en œuvre
Les faisceaux d'ions peuvent etre vus comme un outil polyvalent permettant d'aborder, aussi bien la synthese de nouveaux materiaux, que l'analyse structurale et chimique de systemes complexes. Leur emploi apporte un parametre supplementaire a l'experimentateur, pour parcourir les diagrammes de phase: le systeme restant fige (a la maniere d'une trempe) des que l'on coupe le faisceau. Apres une presentation des phenomenes physiques impliques (pouvoir d'arret, creation de defauts), nous aborderons ici la mise en œuvre des faisceaux d'ions (production, tri en masses, dispositifs experimentaux). Nous distinguerons par la suite deux modes d'utilisation des faisceaux d'ions, l'analyse et la synthese. Lorsque le faisceau d'ions est destine a l'analyse, deux types d'experiences se presentent. Dans le premier cas, l'echantillon a etudier est la source de production des ions et l'analyse consiste a trier en masse les ions extraits, elle est alors destructive. Dans le second, l'analyse resulte de l'interaction d'un faisceau d'ions legers avec l'echantillon qui est alors la cible. Suivant la nature de l'analyse, differents types de detecteurs permettent de quantifier l'energie des particules diffusees par l'echantillon (fluorescence, retrodiffusion... ). Lorsque l'on utilise les faisceaux d'ions en tant qu'outils de modifications controlees des echantillons, plusieurs parametres (energie, flux, dose, nature du faisceau, temperature de la cible) sont ajustables suivant l'objectif recherche (creation de defauts, mise en ordre, synthese de nouvelles phases ou encore la modification des surfaces). Nous decrirons les dispositifs experimentaux types utilises pour la production des faisceaux (schema de principe des sources) et l'environnement de l'echantillon, selon les applications recherchees (microelectroniques, optique, mecanique). Dans un article a paraitre ulterieurement, nous nous interesserons surtout aux faisceaux d'ions en tant qu'outils de controles et modifications des materiaux, suivis ou non d'analyses. Nous presenterons plusieurs installations qui permettent de combiner les deux modes (analyse et modification controlee des materiaux), donnant ainsi acces a l'etude in situ de la synthese de nouveaux materiaux. Il est clair que la mise en œuvre et l'utilisation des faisceaux d'ions couvre un tres vaste domaine de connaissances. Ce document a pour objectif de presenter les bases necessaires a la comprehension de l'interaction ions/matiere, ainsi qu'une vue globale du domaine a travers des exemples et ne pretend pas etre exhaustif.
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