用透射电子显微镜(tem)研究金属-成像

M. Karlík, B. Jouffrey
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摘要

透射电子显微镜是基于电子与材料的相互作用,导致光束强度在薄片出口面上的不均匀分布。然而,这种不均匀性通常不允许获得足够对比度的图像。为了获得可操作的图像,只需要使用膜片选择电子束的一部分。因此,对比是由操作人员的操作产生的,并依赖于操作过程。
本文章由计算机程序翻译,如有差异,请以英文原文为准。
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Étude des métaux par microscopie électronique en transmission (MET) - Formation des images
La microscopie electronique en transmission est basee sur l'interaction des electrons avec la matiere qui entraine une distribution non uniforme de l'intensite du faisceau sur la face de sortie de la lame mince. Cependant, cette non-uniformite ne permet pas, en general, d'obtenir une image avec un contraste suffisant. Pour avoir des images exploitables, il faut seulement selectionner une partie du faisceau d'electrons a l'aide d'un diaphragme. Le contraste est donc cree par les manipulations de l'operateur et depend du processus operatoire.
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