Microelectron. J.

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Simulation study of lateral CEFT logic performance at 3 nm Node

Pub Date : 2023-07-01 DOI: 10.2139/ssrn.4377529 Guanguo Wen, Qiang Long, Xinlong Shi, Ying Wang, Feng Liu, Huiyong Hu, Jincheng Zhang

Filtering SIW phase shifter based on through quartz vias technology

Pub Date : 2023-06-01 DOI: 10.2139/ssrn.4368152 Nuo Liu, Xiaoxian Liu, Chenhui Fan

Effect of bias conditions on transient anode current for quasi-double-sided silicon drift detector with high energy resolution

Pub Date : 2023-06-01 DOI: 10.2139/ssrn.4359534 Longjie Wang, Wei Luo, Mingpeng Zhang, Jia Rui, Xing Li, X. Tian, Bolong Wang, Shuai Jiang, Jiawang Cheng, Xiaoping Ouyang

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