IEEE International Workshop on Memory Technology, Design and Testing,

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Pub Date : 1996-08-13 DOI: 10.1109/MTDT.1996.782500 K. Hilliges, J. Sundermann

Pub Date : 1996-08-13 DOI: 10.1109/MTDT.1996.782485 F. Hii, T. Powell, D. Cline

Pub Date : 1996-08-13 DOI: 10.1109/MTDT.1996.782468 S. Grossman

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