2004 International Conferce on Test

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Pub Date : 2004-10-26 DOI: 10.1109/ITC.2004.168 K. Butler

Pub Date : 2004-10-26 DOI: 10.1109/ITC.2004.138 Y. Okuda

Pub Date : 2004-10-26 DOI: 10.1109/ITC.2004.153 H. Jun, S. Chung, S. Baeg

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