2009 International Symposium on VLSI Design, Automation and Test

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发文信息

Pub Date : 2009-04-28 DOI: 10.2197/ipsjtsldm.2.180 Hideki Takase, H. Tomiyama, H. Takada

Pub Date : 2009-04-28 DOI: 10.1109/VDAT.2009.5158155 S. Jang, Chuang-Jen Huang, Cheng-Chen Liu

Pub Date : 2009-04-28 DOI: 10.1109/VDAT.2009.5158163 Yun-Ching Tang, Dosheng Hu, Weiyi Wei, Wen-Chung Lin, Hongchin Lin

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