Proceedings from the Sixth Annual IEEE SMC Information Assurance Workshop

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Pub Date : 2005-06-15 DOI: 10.1109/IAW.2005.1495984 Calvert L. Bowen, T. Buennemeyer, Ryan W. Thomas

Pub Date : 2005-06-15 DOI: 10.1109/IAW.2005.1495991 K. Montry, R. Kelley

Pub Date : 2005-06-15 DOI: 10.1109/IAW.2005.1496000 S. Goel, Damira Pon

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