2023 IEEE/ACM International Conference on Automation of Software Test (AST)

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Debugging Flaky Tests using Spectrum-based Fault Localization

Pub Date : 2023-05-01 DOI: 10.1109/AST58925.2023.00017 Martin Gruber, G. Fraser

Message from AST 2023 Chairs

Pub Date : 2023-05-01 DOI: 10.1109/ast58925.2023.00025

Test Case Prioritization using Transfer Learning in Continuous Integration Environments

Pub Date : 2023-05-01 DOI: 10.1109/AST58925.2023.00023 Rezwana Mamata, Akramul Azim, R. Liscano, Kevin Smith, Yee-Kang Chang, Gkerta Seferi, Qasim Tauseef

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