Electronic Device Failure Analysis

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同类期刊

ISSN：

ISSN是由8个数字组成的编码，旨在识别各种报纸、专业杂志、画报、期刊，无论其性质或载体版本（纸版及电子版）。

print: 1537-0755

研究领域：

Engineering-Safety, Risk, Reliability and Quality

Gold OA文章占比：

Gold OA文章占比是指一个总体中金色OA文章数量占总体文章数量的比重。OA期刊的文章主要通过金色通道（Gold road，也称为Gold OA，即期刊官网）和绿色通道（Green road，或Green OA）实现开放获取。金色通道是开放获取期刊通过自己的官网来实现的，而绿色通道是通过把文章自存档于机构知识库(Institutional Repositories，比如哈佛大学学术库DASH）或学科知识库中来实现。

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原创研究文献占比：

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SCI收录类型：

Scopus (CiteScore)

期刊介绍英文：

Electronic Device Failure Analysis is a growing technical resource for the Failure Analysis engineer. Each quarterly issue covers: - Contributed technical articles that cover everything from operations to techniques - Insight into trends in the microelectronics FA industry, to keep you up-to-date - New product announcements - Recognition of outstanding contributions to the field of FA - Looking to update some skills? The Training Calendar provides an easy way to know what courses are coming up in the months ahead. - News of the Electronic Device Failure Analysis Society. - Guest Columns provide that vital perspective into other FA

CiteScore：

引用分数（英语：CiteScore，CS）是一种用来反映学术期刊最近发表文章“年平均被引用次数”的衡量指标。该指标由Elsevier于 2016 年 12 月推出，以替代常用的JCR影响因子（由Clarivate计算）。 CiteScore是Scopus中系列期刊指标的一部分，包括 SNIP(源文档标准化影响)，SJR (SClmago杂志排名)，引用文档计数以及引用百分比。

CiteScore	SJR	SNIP	CiteScore排名
0.6	0.125	0.211	学科排名百分位大类：Engineering 小类：Safety, Risk, Reliability and Quality 175 / 207 15% 大类：Engineering 小类：Electrical and Electronic Engineering 698 / 797 12%