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Abstract
Plusieurs methodes peuvent etre utilisees pour mesurer des orientations locales au sein d'une microstructure des materiaux metalliques. L'une d'entre elles, l'EBSD (Electron BackScattered Diffraction) est devenue depuis quelques annees une technique tres repandue dans les laboratoires universitaires et industriels. A partir de cartographies d'orientations, mais aussi de phases, une multitude de donnees est accessible. Par ailleurs, l'EBSD est devenue un outil indispensable pour la simulation de l'evolution des microstructures et des textures de deformation, de recristallisation statique et dynamique et de croissance de grains. Ces differents developpements centres autour de l'EBSD sont decrits et illustres dans cet article.