{"title":"Texture et anisotropie des matériaux polycristallins - Définitions et techniques expérimentales","authors":"Claude Esling, H. Bunge","doi":"10.51257/a-v1-m3040","DOIUrl":null,"url":null,"abstract":"La texture cristallographique des materiaux polycristallins est la statistique des orientations de la population des cristallites individuelles. Dans les mesures de diffraction polycristalline qui etaient le plus couramment utilisees, l’information sur les coordonnees de position etait perdue. Au cours de la premiere decennie du XXI e siecle, des techniques de microscopie 3D en rayonnement synchrotron ont ete developpees, elles donnent la cartographie d’orientation 3D avec une excellente resolution spatiale et angulaire. En microscopie electronique a balayage, la cartographie d’orientation 2D, puis 3D par la technique du microscope a double faisceau et les coupes seriees, permet egalement d’inclure les informations de correlations spatiales. La cartographie d’orientation 2D en microscopie electronique a transmission est appliquee avec des protocoles automatises a des microstructures a l’echelle nanometrique. Enfin, des methodes d’exploitation du spectre en diffraction polycristalline RX et neutrons ont ete developpees sous le nom d’analyse combinee, donnant a la fois les phases cristallines, les textures, les tailles de grains et les contraintes residuelles.","PeriodicalId":318873,"journal":{"name":"Étude et propriétés des métaux","volume":"26 1","pages":"0"},"PeriodicalIF":0.0000,"publicationDate":"2012-06-10","publicationTypes":"Journal Article","fieldsOfStudy":null,"isOpenAccess":false,"openAccessPdf":"","citationCount":"3","resultStr":null,"platform":"Semanticscholar","paperid":null,"PeriodicalName":"Étude et propriétés des métaux","FirstCategoryId":"1085","ListUrlMain":"https://doi.org/10.51257/a-v1-m3040","RegionNum":0,"RegionCategory":null,"ArticlePicture":[],"TitleCN":null,"AbstractTextCN":null,"PMCID":null,"EPubDate":"","PubModel":"","JCR":"","JCRName":"","Score":null,"Total":0}
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Abstract
La texture cristallographique des materiaux polycristallins est la statistique des orientations de la population des cristallites individuelles. Dans les mesures de diffraction polycristalline qui etaient le plus couramment utilisees, l’information sur les coordonnees de position etait perdue. Au cours de la premiere decennie du XXI e siecle, des techniques de microscopie 3D en rayonnement synchrotron ont ete developpees, elles donnent la cartographie d’orientation 3D avec une excellente resolution spatiale et angulaire. En microscopie electronique a balayage, la cartographie d’orientation 2D, puis 3D par la technique du microscope a double faisceau et les coupes seriees, permet egalement d’inclure les informations de correlations spatiales. La cartographie d’orientation 2D en microscopie electronique a transmission est appliquee avec des protocoles automatises a des microstructures a l’echelle nanometrique. Enfin, des methodes d’exploitation du spectre en diffraction polycristalline RX et neutrons ont ete developpees sous le nom d’analyse combinee, donnant a la fois les phases cristallines, les textures, les tailles de grains et les contraintes residuelles.