Новий метод визначення апаратної функції в рентгенівській фотоелектронній спектроскопії

О.М. Кордубан, М.М. Медведський, Д.О. Кордубан
{"title":"Новий метод визначення апаратної функції в рентгенівській фотоелектронній спектроскопії","authors":"О.М. Кордубан, М.М. Медведський, Д.О. Кордубан","doi":"10.15407/dopovidi2023.05.047","DOIUrl":null,"url":null,"abstract":"Розроблено новий метод інструментального визначення апаратної функції в рентгенівській фотоелектронній спектроскопії (РФС). Вперше показано принципову можливість отримання апаратної функції спектрометра доповненням стандартних вихідних даних РФС додатковою інформацією у вигляді розподілів амплітуд одноелектронних імпульсів для кожної точки спектра. Метод не містить суб’єктивних критеріїв вибору параметрів спектра РФС, притаманних математичним методам деконволюції. Алгоритм методу ґрунтується на аналізі функції амплітудного розподілу імпульсів у кожній точці спектра за критерієм величини співвідношення сигнал/шум. Показано, що застосування методу дає змогу зменшити ширину лінії Cu2p3/2-рівня з 1,2 до 1,0 еВ, зменшити внесок лоренціана та розділити особливість у максимумі спектра. Метод може бути застосовано для вирішення проблеми виділення сигналу з шуму, а також у тих областях спектроскопії, де використовується методика підрахунку одноелектронних імпульсів, зокрема в корпускулярній спектроскопії: електронній та іонній спектроскопії і масспектрометрії, в растровій електронній мікроскопії.","PeriodicalId":20898,"journal":{"name":"Reports of the National Academy of Sciences of Ukraine","volume":"133 ","pages":""},"PeriodicalIF":0.0000,"publicationDate":"2023-11-22","publicationTypes":"Journal Article","fieldsOfStudy":null,"isOpenAccess":false,"openAccessPdf":"","citationCount":"0","resultStr":null,"platform":"Semanticscholar","paperid":null,"PeriodicalName":"Reports of the National Academy of Sciences of Ukraine","FirstCategoryId":"1085","ListUrlMain":"https://doi.org/10.15407/dopovidi2023.05.047","RegionNum":0,"RegionCategory":null,"ArticlePicture":[],"TitleCN":null,"AbstractTextCN":null,"PMCID":null,"EPubDate":"","PubModel":"","JCR":"","JCRName":"","Score":null,"Total":0}
引用次数: 0

Abstract

Розроблено новий метод інструментального визначення апаратної функції в рентгенівській фотоелектронній спектроскопії (РФС). Вперше показано принципову можливість отримання апаратної функції спектрометра доповненням стандартних вихідних даних РФС додатковою інформацією у вигляді розподілів амплітуд одноелектронних імпульсів для кожної точки спектра. Метод не містить суб’єктивних критеріїв вибору параметрів спектра РФС, притаманних математичним методам деконволюції. Алгоритм методу ґрунтується на аналізі функції амплітудного розподілу імпульсів у кожній точці спектра за критерієм величини співвідношення сигнал/шум. Показано, що застосування методу дає змогу зменшити ширину лінії Cu2p3/2-рівня з 1,2 до 1,0 еВ, зменшити внесок лоренціана та розділити особливість у максимумі спектра. Метод може бути застосовано для вирішення проблеми виділення сигналу з шуму, а також у тих областях спектроскопії, де використовується методика підрахунку одноелектронних імпульсів, зокрема в корпускулярній спектроскопії: електронній та іонній спектроскопії і масспектрометрії, в растровій електронній мікроскопії.
查看原文
分享 分享
微信好友 朋友圈 QQ好友 复制链接
本刊更多论文
确定 X 射线光电子能谱硬件功能的新方法
我们开发了一种新方法,用于用仪器测定 X 射线光电子能谱(XPS)的硬件功能。该方法首次证明,通过对 XPS 的标准输出数据进行补充,以光谱中每个点的单电子脉冲振幅分布形式提供额外信息,可以获得光谱仪的硬件功能。该方法不包含选择 SEM 光谱参数的主观标准,而这是数学解卷积方法所固有的。该方法的算法基于根据信噪比标准对光谱各点脉冲振幅分布函数的分析。结果表明,应用该方法可以将 Cu2p3/2 级线的宽度从 1.2 eV 减小到 1.0 eV,减少洛伦兹线的贡献,并分离光谱最大值处的特征。该方法可用于解决从噪声中分离信号的问题,也可用于使用单电子脉冲计数法的光谱学领域,特别是粒子光谱学:电子和离子光谱学、质谱分析、扫描电子显微镜。
本文章由计算机程序翻译,如有差异,请以英文原文为准。
求助全文
约1分钟内获得全文 去求助
来源期刊
自引率
0.00%
发文量
0
期刊最新文献
Асимптотична поведінка індексу складності зростаючих випадкових дерев Physical start-up of the Nuclear Subcritical Facility “Neutron Source” of NSC KIPT Електрофізичні властивості BaNd2–xSmxIn2O7 з шаруватою перовськітоподібною структурою Особливості фізичних процесів формування кремнієвих поверхнево-бар’єрних структур Чисельний розв’язок задачі про напружений стан нетонких неоднорідних циліндричних еліптичних оболонок на основі просторової моделі
×
引用
GB/T 7714-2015
复制
MLA
复制
APA
复制
导出至
BibTeX EndNote RefMan NoteFirst NoteExpress
×
×
提示
您的信息不完整,为了账户安全,请先补充。
现在去补充
×
提示
您因"违规操作"
具体请查看互助需知
我知道了
×
提示
现在去查看 取消
×
提示
确定
0
微信
客服QQ
Book学术公众号 扫码关注我们
反馈
×
意见反馈
请填写您的意见或建议
请填写您的手机或邮箱
已复制链接
已复制链接
快去分享给好友吧!
我知道了
×
扫码分享
扫码分享
Book学术官方微信
Book学术文献互助
Book学术文献互助群
群 号:481959085
Book学术
文献互助 智能选刊 最新文献 互助须知 联系我们:info@booksci.cn
Book学术提供免费学术资源搜索服务,方便国内外学者检索中英文文献。致力于提供最便捷和优质的服务体验。
Copyright © 2023 Book学术 All rights reserved.
ghs 京公网安备 11010802042870号 京ICP备2023020795号-1