{"title":"Interfaces isótropo-anisótropo: un código numérico para caracterizar la reflexión y refracción","authors":"G. Caro, E. O. Acosta, F. Veiras, L. Pérez","doi":"10.37537/REV.ELEKTRON.3.2.77.2019","DOIUrl":null,"url":null,"abstract":"El estudio detallado de la respuesta de los materiales lineales anisótropos ante campos electromagnéticos tiene como uno de sus fines el de diseñar nuevos dispositivos de interés en Óptica, Optoelectrónica y Electrónica. En este trabajo presentamos una herramienta numérica sencilla que es capaz de determinar las características de la propagación de las ondas planas a través de una interfaz isótropo-anisótropo uniaxial con dirección arbitraria del eje óptico respecto a la dirección de incidencia. Los algoritmos fueron comprobados con los resultados analíticos en los casos en que el plano de incidencia coincide con cada uno de los planos principales del cristal.","PeriodicalId":34872,"journal":{"name":"Elektron","volume":" ","pages":""},"PeriodicalIF":0.0000,"publicationDate":"2019-12-15","publicationTypes":"Journal Article","fieldsOfStudy":null,"isOpenAccess":false,"openAccessPdf":"","citationCount":"0","resultStr":null,"platform":"Semanticscholar","paperid":null,"PeriodicalName":"Elektron","FirstCategoryId":"1085","ListUrlMain":"https://doi.org/10.37537/REV.ELEKTRON.3.2.77.2019","RegionNum":0,"RegionCategory":null,"ArticlePicture":[],"TitleCN":null,"AbstractTextCN":null,"PMCID":null,"EPubDate":"","PubModel":"","JCR":"","JCRName":"","Score":null,"Total":0}
引用次数: 0
Abstract
El estudio detallado de la respuesta de los materiales lineales anisótropos ante campos electromagnéticos tiene como uno de sus fines el de diseñar nuevos dispositivos de interés en Óptica, Optoelectrónica y Electrónica. En este trabajo presentamos una herramienta numérica sencilla que es capaz de determinar las características de la propagación de las ondas planas a través de una interfaz isótropo-anisótropo uniaxial con dirección arbitraria del eje óptico respecto a la dirección de incidencia. Los algoritmos fueron comprobados con los resultados analíticos en los casos en que el plano de incidencia coincide con cada uno de los planos principales del cristal.
京公网安备 11010802042870号
京ICP备2023020795号-1
分享
求助内容：
应助结果提醒方式：
扫码关注我们
