Propriétés électroniques des surfaces solides - Techniques expérimentales

Jean-Marc Themlin
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Abstract

Depuis un demi-siecle, la science des surfaces a accompli des progres remarquables dans la caracterisation et la connaissance de l’arrangement des atomes a la surface d’un solide de structure cristalline. A l’heure actuelle, les techniques de spectroscopie et d’imagerie permettant de sonder les proprietes electroniques des surfaces sont nombreuses. Pour autant, aucune d’entre elles ne peut donner un acces direct et univoque a l'ensemble de la structure atomique detaillee des couches perisuperficielles. La solution est donc la combinaison des informations fournies par plusieurs techniques, comme l'analyse dynamique des taches de diffraction LEED, la diffusion d'un faisceau atomique, la diffraction des photoelectrons, la diffraction des rayons X en incidence rasante, les images STM ou AFM. Ces approches croisees livrent au moins partiellement les caracteristiques structurales essentielles des surfaces des principaux solides.
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固体表面的电子性质。实验技术
在过去的半个世纪里,表面科学在表征和理解晶体结构固体表面原子的排列方面取得了显著的进展。目前有许多光谱学和成像技术可以探测表面的电子特性。然而,它们都不能提供直接和明确的访问整个详细的超表面层的原子结构。因此,解决方案是结合几种技术提供的信息,如LEED衍射点的动态分析、原子束的扩散、光电子衍射、入射X射线衍射、STM或AFM图像。这些交叉方法至少部分地提供了主要固体表面的基本结构特征。
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