Temperature and Thickness Dependence of Electrical and Thermal Transport Coefficients of Bi1-xSbx Films in an Anisotropic, Non-Degenerate Two-Band Model

Abstract

The thickness and temperature dependences of electrical and thermal transport coefficients (e.g. electrical conductivity, thermoelectric power, thermal conductivity) of Bi1–xSbx films are described by a non-degenerated two-band model, considering the anisotropic elliptical band structure (many-valley model) of bulk Bi1–xSbx. The transport coefficients are measured in the temperature range 80 to 400 K on films with thicknesses 20 to 400 nm and the results are interpreted and discussed using the deduced relations. Die Schichtdicken- und Temperatura bhangigkeit elektrischer und thermischer Transportkoeffi-zienten (z. B. der elektrischen Leitfahigkeit, der Thermokraft, der Warmeleitfahigkeit) von Bi1–xSbx-Schichten wird im Rahmen eines nicht entarteten Zweiband-Modells unter Berucksichtigung der anisotropen elliptischen Bandstruktur (many valley model) von massivem Bi1–xSbx beschrieben. Die Transportkoeff izienten werden im Temperaturbereich 80 bis 400 K an Schichten von 20 bis 400 nm Dicke gemessen, und die Ergebnisse werden mit den abgeleiteten Beziehungen interpretiert und diskutiert.