Константин Орестович Петросянц, М.Р. Исмаил-Заде, М. В. Кожухов, Дмитрий Алексеевич Попов, А А Пугачёв, Л М Самбурский, Д.С. Силкин, И. А. Харитонов
{"title":"考虑到温度、辐射和老化的影响,TCAD和SPICE模型硅元素","authors":"Константин Орестович Петросянц, М.Р. Исмаил-Заде, М. В. Кожухов, Дмитрий Алексеевич Попов, А А Пугачёв, Л М Самбурский, Д.С. Силкин, И. А. Харитонов","doi":"10.22184/1993-8578.2022.15.8s.183.194","DOIUrl":null,"url":null,"abstract":"Для компонентов БиКМОП БИС с субмикронными и нанометровыми размерами разработаны версии TCAD-и SPICE-моделей, учитывающие воздействие различных видов радиации, температуры в сверхшироком диапазоне -260...+300 °C и старения при длительной эксплуатации.","PeriodicalId":223196,"journal":{"name":"Nanoindustry Russia","volume":"18 1","pages":"0"},"PeriodicalIF":0.0000,"publicationDate":"2022-05-27","publicationTypes":"Journal Article","fieldsOfStudy":null,"isOpenAccess":false,"openAccessPdf":"","citationCount":"0","resultStr":"{\"title\":\"ПОДСИСТЕМА TCAD- И SPICE-МОДЕЛИРОВАНИЯ ЭЛЕМЕНТОВ КРЕМНИЕВЫХ БИС С УЧЕТОМ ВЛИЯНИЯ ТЕМПЕРАТУРЫ, РАДИАЦИИ И СТАРЕНИЯ\",\"authors\":\"Константин Орестович Петросянц, М.Р. Исмаил-Заде, М. В. Кожухов, Дмитрий Алексеевич Попов, А А Пугачёв, Л М Самбурский, Д.С. Силкин, И. А. Харитонов\",\"doi\":\"10.22184/1993-8578.2022.15.8s.183.194\",\"DOIUrl\":null,\"url\":null,\"abstract\":\"Для компонентов БиКМОП БИС с субмикронными и нанометровыми размерами разработаны версии TCAD-и SPICE-моделей, учитывающие воздействие различных видов радиации, температуры в сверхшироком диапазоне -260...+300 °C и старения при длительной эксплуатации.\",\"PeriodicalId\":223196,\"journal\":{\"name\":\"Nanoindustry Russia\",\"volume\":\"18 1\",\"pages\":\"0\"},\"PeriodicalIF\":0.0000,\"publicationDate\":\"2022-05-27\",\"publicationTypes\":\"Journal Article\",\"fieldsOfStudy\":null,\"isOpenAccess\":false,\"openAccessPdf\":\"\",\"citationCount\":\"0\",\"resultStr\":null,\"platform\":\"Semanticscholar\",\"paperid\":null,\"PeriodicalName\":\"Nanoindustry Russia\",\"FirstCategoryId\":\"1085\",\"ListUrlMain\":\"https://doi.org/10.22184/1993-8578.2022.15.8s.183.194\",\"RegionNum\":0,\"RegionCategory\":null,\"ArticlePicture\":[],\"TitleCN\":null,\"AbstractTextCN\":null,\"PMCID\":null,\"EPubDate\":\"\",\"PubModel\":\"\",\"JCR\":\"\",\"JCRName\":\"\",\"Score\":null,\"Total\":0}","platform":"Semanticscholar","paperid":null,"PeriodicalName":"Nanoindustry Russia","FirstCategoryId":"1085","ListUrlMain":"https://doi.org/10.22184/1993-8578.2022.15.8s.183.194","RegionNum":0,"RegionCategory":null,"ArticlePicture":[],"TitleCN":null,"AbstractTextCN":null,"PMCID":null,"EPubDate":"","PubModel":"","JCR":"","JCRName":"","Score":null,"Total":0}
ПОДСИСТЕМА TCAD- И SPICE-МОДЕЛИРОВАНИЯ ЭЛЕМЕНТОВ КРЕМНИЕВЫХ БИС С УЧЕТОМ ВЛИЯНИЯ ТЕМПЕРАТУРЫ, РАДИАЦИИ И СТАРЕНИЯ
Для компонентов БиКМОП БИС с субмикронными и нанометровыми размерами разработаны версии TCAD-и SPICE-моделей, учитывающие воздействие различных видов радиации, температуры в сверхшироком диапазоне -260...+300 °C и старения при длительной эксплуатации.