Eric Maire, L. Salvo, Peter Cloetens, Marco Di Michiel
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Tomographie à rayons X appliquée à l’étude des matériaux
Les synchrotrons de 3 e generation sont des sources de rayons X extraordinairement puissantes. Ils ont permis le developpement d’une nouvelle version haute resolution de la tomographie a rayons X, technique d’imagerie non destructive. Ainsi par exemple, la microstructure interne de materiaux peut etre etudiee.
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