Андрей Владимирович Панченко, П.C. Серебренникова, В. Ю. Комаров, С. А. Громилов
{"title":"解码器校准的新方法。90-490 k的InSb研究","authors":"Андрей Владимирович Панченко, П.C. Серебренникова, В. Ю. Комаров, С. А. Громилов","doi":"10.26902/jsc_id114114","DOIUrl":null,"url":null,"abstract":"Предложены новые методики калибровки монокристальных дифрактометров, оснащенных 2D-детектором для повышения точности измерения параметров элементарной ячейки. В основе методики лежит обработка профилей дифракционных рефлексов по оригинальной программе SearchXY-2q и уточнение положения детектора путем съемки внешнего эталона. Обсуждаются особенности калибровки дифрактометров, оснащенных трех- или четырехкружным гониометрами. Использование рефлексов с 2q » 100°, при уточнении параметров элементарной ячейки тестового монокристалла InSb позволило провести измерения параметра элементарной кубической ячейки а с относительной погрешностью 7´10-5. Возможности методик также проиллюстрированы результатами измерения зависимостей а(Т) InSb в интервале 90-490 К.","PeriodicalId":24042,"journal":{"name":"Журнал структурной химии","volume":null,"pages":null},"PeriodicalIF":0.0000,"publicationDate":"2023-01-01","publicationTypes":"Journal Article","fieldsOfStudy":null,"isOpenAccess":false,"openAccessPdf":"","citationCount":"0","resultStr":"{\"title\":\"Новые подходы к калибровке дифрактометра. Изучение InSb в интервале 90-490 К\",\"authors\":\"Андрей Владимирович Панченко, П.C. Серебренникова, В. Ю. Комаров, С. А. Громилов\",\"doi\":\"10.26902/jsc_id114114\",\"DOIUrl\":null,\"url\":null,\"abstract\":\"Предложены новые методики калибровки монокристальных дифрактометров, оснащенных 2D-детектором для повышения точности измерения параметров элементарной ячейки. В основе методики лежит обработка профилей дифракционных рефлексов по оригинальной программе SearchXY-2q и уточнение положения детектора путем съемки внешнего эталона. Обсуждаются особенности калибровки дифрактометров, оснащенных трех- или четырехкружным гониометрами. Использование рефлексов с 2q » 100°, при уточнении параметров элементарной ячейки тестового монокристалла InSb позволило провести измерения параметра элементарной кубической ячейки а с относительной погрешностью 7´10-5. Возможности методик также проиллюстрированы результатами измерения зависимостей а(Т) InSb в интервале 90-490 К.\",\"PeriodicalId\":24042,\"journal\":{\"name\":\"Журнал структурной химии\",\"volume\":null,\"pages\":null},\"PeriodicalIF\":0.0000,\"publicationDate\":\"2023-01-01\",\"publicationTypes\":\"Journal Article\",\"fieldsOfStudy\":null,\"isOpenAccess\":false,\"openAccessPdf\":\"\",\"citationCount\":\"0\",\"resultStr\":null,\"platform\":\"Semanticscholar\",\"paperid\":null,\"PeriodicalName\":\"Журнал структурной химии\",\"FirstCategoryId\":\"1085\",\"ListUrlMain\":\"https://doi.org/10.26902/jsc_id114114\",\"RegionNum\":0,\"RegionCategory\":null,\"ArticlePicture\":[],\"TitleCN\":null,\"AbstractTextCN\":null,\"PMCID\":null,\"EPubDate\":\"\",\"PubModel\":\"\",\"JCR\":\"\",\"JCRName\":\"\",\"Score\":null,\"Total\":0}","platform":"Semanticscholar","paperid":null,"PeriodicalName":"Журнал структурной химии","FirstCategoryId":"1085","ListUrlMain":"https://doi.org/10.26902/jsc_id114114","RegionNum":0,"RegionCategory":null,"ArticlePicture":[],"TitleCN":null,"AbstractTextCN":null,"PMCID":null,"EPubDate":"","PubModel":"","JCR":"","JCRName":"","Score":null,"Total":0}
Новые подходы к калибровке дифрактометра. Изучение InSb в интервале 90-490 К
Предложены новые методики калибровки монокристальных дифрактометров, оснащенных 2D-детектором для повышения точности измерения параметров элементарной ячейки. В основе методики лежит обработка профилей дифракционных рефлексов по оригинальной программе SearchXY-2q и уточнение положения детектора путем съемки внешнего эталона. Обсуждаются особенности калибровки дифрактометров, оснащенных трех- или четырехкружным гониометрами. Использование рефлексов с 2q » 100°, при уточнении параметров элементарной ячейки тестового монокристалла InSb позволило провести измерения параметра элементарной кубической ячейки а с относительной погрешностью 7´10-5. Возможности методик также проиллюстрированы результатами измерения зависимостей а(Т) InSb в интервале 90-490 К.
京公网安备 11010802042870号
京ICP备2023020795号-1
分享
求助内容：
应助结果提醒方式：
扫码关注我们
