F. Canova, J. Chambaret, G. Mourou, Matthias P. L. Sentis, Olivier Utéza, P. Delaporte
{"title":"纳米秒、皮秒和飞秒脉冲对钛掺杂蓝宝石晶体损伤阈值的表征","authors":"F. Canova, J. Chambaret, G. Mourou, Matthias P. L. Sentis, Olivier Utéza, P. Delaporte","doi":"10.1051/JP4:2006138019","DOIUrl":null,"url":null,"abstract":"Le verrou principal pour le developpement des systemes femtoseconde robustes et rentables est l'incertitude du seuil de dommages du cristal de Ti: Saphir. Nous avons d'abord caracterise le seuil dielectrique de dommages du Ti: Saphir.","PeriodicalId":14838,"journal":{"name":"Journal De Physique Iv","volume":"21 1","pages":"163-169"},"PeriodicalIF":0.0000,"publicationDate":"2006-12-01","publicationTypes":"Journal Article","fieldsOfStudy":null,"isOpenAccess":false,"openAccessPdf":"","citationCount":"0","resultStr":"{\"title\":\"Caractérisation du seuil de dommage dans les cristaux de saphir dopé au titane avec des impulsions de durée nanoseconde, picoseconde et femtoseconde\",\"authors\":\"F. Canova, J. Chambaret, G. Mourou, Matthias P. L. Sentis, Olivier Utéza, P. Delaporte\",\"doi\":\"10.1051/JP4:2006138019\",\"DOIUrl\":null,\"url\":null,\"abstract\":\"Le verrou principal pour le developpement des systemes femtoseconde robustes et rentables est l'incertitude du seuil de dommages du cristal de Ti: Saphir. Nous avons d'abord caracterise le seuil dielectrique de dommages du Ti: Saphir.\",\"PeriodicalId\":14838,\"journal\":{\"name\":\"Journal De Physique Iv\",\"volume\":\"21 1\",\"pages\":\"163-169\"},\"PeriodicalIF\":0.0000,\"publicationDate\":\"2006-12-01\",\"publicationTypes\":\"Journal Article\",\"fieldsOfStudy\":null,\"isOpenAccess\":false,\"openAccessPdf\":\"\",\"citationCount\":\"0\",\"resultStr\":null,\"platform\":\"Semanticscholar\",\"paperid\":null,\"PeriodicalName\":\"Journal De Physique Iv\",\"FirstCategoryId\":\"1085\",\"ListUrlMain\":\"https://doi.org/10.1051/JP4:2006138019\",\"RegionNum\":0,\"RegionCategory\":null,\"ArticlePicture\":[],\"TitleCN\":null,\"AbstractTextCN\":null,\"PMCID\":null,\"EPubDate\":\"\",\"PubModel\":\"\",\"JCR\":\"\",\"JCRName\":\"\",\"Score\":null,\"Total\":0}","platform":"Semanticscholar","paperid":null,"PeriodicalName":"Journal De Physique Iv","FirstCategoryId":"1085","ListUrlMain":"https://doi.org/10.1051/JP4:2006138019","RegionNum":0,"RegionCategory":null,"ArticlePicture":[],"TitleCN":null,"AbstractTextCN":null,"PMCID":null,"EPubDate":"","PubModel":"","JCR":"","JCRName":"","Score":null,"Total":0}
Caractérisation du seuil de dommage dans les cristaux de saphir dopé au titane avec des impulsions de durée nanoseconde, picoseconde et femtoseconde
Le verrou principal pour le developpement des systemes femtoseconde robustes et rentables est l'incertitude du seuil de dommages du cristal de Ti: Saphir. Nous avons d'abord caracterise le seuil dielectrique de dommages du Ti: Saphir.
京公网安备 11010802042870号
京ICP备2023020795号-1
分享
求助内容：
应助结果提醒方式：
扫码关注我们
