J. Am. Chem. Soc. | 质谱法对tRNA进行从头测序及修饰定量

本文介绍了一种名为MLC-seq的新型质谱法，用于tRNA的从头测序及多重RNA修饰的定量检测。研究背景是现有的高通量测序技术在检测tRNA修饰方面存在局限，尤其是对部分修饰位点的修饰率确定困难。研究目的是开发一种能够同时检测所有修饰类型的方法。通过将tRNA样品分为两部分，一部分直接进行质谱检测，另一部分进行酸性水解后再检测，结合自行开发的算法，成功实现了对tRNA的测序和修饰检测。实验结果表明，MLC-seq不仅能够检测已知的修饰位点，还能发现新的修饰位点，并实现对修饰率的定量。结论是MLC-seq为tRNA的测序和修饰研究提供了一种高效、全面的解决方案。