中国科学院半导体研究所，今日最新Nature！

本文由中国科学院半导体研究所、东方理工大学等研究机构的研究者共同完成，发表于《Nature》。文章探讨了横向光学（TO）声子软化在铁电相变中的作用，提出了一种新的驱动TO声子软化的途径。传统上，TO声子软化依赖于长程库仑相互作用，但本文研究表明，岩盐结构超宽带隙BeO中的TO声子软化主要是由于电子云重叠引起的库伦排斥导致的短程键合强度大幅减少。这一发现为克服强长程库仑相互作用带来的不利影响提供了新思路，尤其是在高密度纳米电子学中的应用。研究者还通过实验证明了在应变诱导的钙钛矿BaZrO3和超薄HfO2和ZrO2薄膜中，铁电性的增强是由于短程键合强度的降低。这一研究为理解和调控铁电材料提供了新的理论基础。