研究前沿：有机分子晶体-位错分析 | Nature Materials

本文介绍了英国利兹大学Sang T. Pham和Sean M. Collins等人在Nature Materials上发表的研究，他们提出了一种低剂量、单次曝光的方法，用于纳米级分辨分析分子晶体中的单个位错。这种方法能够在不引起晶体不可逆降解的情况下，精确地揭示位错特征和滑移系统。研究通过实验演示了该方法在多种晶体类型中的应用，包括有机光电材料、茶碱和石蜡晶体。这一研究为分子晶体中位错的微观晶体学分析提供了新的视角，有助于深入理解分子晶体的生长机制和功能特性。