Proceedings. 16th IEEE VLSI Test Symposium (Cat. No.98TB100231)

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发文信息

Pub Date : 1998-04-26 DOI: 10.1109/VTEST.1998.670862 Heebyung Yoon, P. Variyam, A. Chatterjee, N. Nagi

Pub Date : 1998-04-26 DOI: 10.1109/VTEST.1998.670877 Dinos Moundanos, J. Abraham

Pub Date : 1998-04-26 DOI: 10.1109/VTEST.1998.670842 D. Bhattacharya

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