Digest of Papers 1991 VLSI Test Symposium 'Chip-to-System Test Concerns for the 90's

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发文信息

Pub Date : 1991-04-15 DOI: 10.1109/VTEST.1991.208166 C. Gauthron

Pub Date : 1991-04-15 DOI: 10.1109/VTEST.1991.208130 K. E. Maadani, J. Geffroy

Pub Date : 1991-04-15 DOI: 10.1109/VTEST.1991.208168 R. Seireg, A. Vacroux

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