2012 IEEE 30th VLSI Test Symposium (VTS)

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发文信息

Pub Date : 2012-04-23 DOI: 10.1109/VTS.2012.6231095 P. Wohl, J. Waicukauski, J. E. Colburn

Pub Date : 2012-04-23 DOI: 10.1109/VTS.2012.6231101 Wei Zhao, S. Chakravarty, Junxia Ma, Narendra Devta-Prasanna, Fan Yang, M. Tehranipoor

Pub Date : 2012-04-23 DOI: 10.1109/VTS.2012.6231097 M. Zamani, M. Tahoori, K. Chakrabarty

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