2009 16th IEEE International Symposium on the Physical and Failure Analysis of Integrated Circuits

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发文信息

Pub Date : 2009-07-06 DOI: 10.1109/IPFA.2009.5232587 Zhang Guangchen, F. Shiwei, Zhang Yuezong, Su Rong, Xie Xuesong, Ge Chenning

Pub Date : 2009-07-06 DOI: 10.1109/IPFA.2009.5232635 Yun-Xia Bai, Chun-sheng Guo, S. Feng, Kaikai Ding, Si-Xiang Zhuang, Rong Su

Pub Date : 2009-07-06 DOI: 10.1109/IPFA.2009.5232646 R. Guan

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