2008 Twenty-fourth Annual IEEE Semiconductor Thermal Measurement and Management Symposium

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发文信息

Pub Date : 2008-03-16 DOI: 10.1109/STHERM.2008.4509389 D. Schweitzer, H. Pape, Liu Chen

Pub Date : 2008-03-16 DOI: 10.1109/STHERM.2008.4509363 J. Tyacke, P. Tucker, P. Nithiarasu

Pub Date : 2008-03-16 DOI: 10.1109/STHERM.2008.4509361 C. Lasance, R. Aarts, Okke Ouweltjes

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