Proceedings. 21st VLSI Test Symposium, 2003.

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发文信息

Pub Date : 2004-06-01 DOI: 10.1109/VTEST.2003.1197649 A. El-Maleh, K. Al-Utaibi

Pub Date : 2004-04-01 DOI: 10.1109/VTEST.2003.1197682 K. N. Patel, J. Hayes, I. Markov

Pub Date : 2003-05-07 DOI: 10.1109/VTEST.2003.1197654 Lei Li, K. Chakrabarty

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