2006 International Symposium on VLSI Design, Automation and Test

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发文信息

Pub Date : 2006-04-26 DOI: 10.1109/VDAT.2006.258114 D. Lie, J. Kennedy, D. Livezey, B. Yang, T. Robinson, N. Sornin, C. Saint, L. Larson

Pub Date : 2006-04-26 DOI: 10.1109/VDAT.2006.258156 S. Tontisirin, R. Tielert

Pub Date : 2006-04-26 DOI: 10.1109/VDAT.2006.258145 Meng-Chiou Wu, Shr-Cheng Tsai, Rung-Bin Lin

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