Proceedings. Ninth IEEE European Test Symposium, 2004. ETS 2004.

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发文信息

Pub Date : 2004-05-23 DOI: 10.1109/ETSYM.2004.1347602 P. Girard, O. Héron, S. Pravossoudovitch, M. Renovell

Pub Date : 2004-05-23 DOI: 10.1109/ETSYM.2004.1347617 P. T. Gonciari, B. Al-Hashimi

Pub Date : 2004-05-23 DOI: 10.1109/ETSYM.2004.1347572 A. Jutman

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