2016 International Symposium on VLSI Design, Automation and Test (VLSI-DAT)

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Pub Date : 2016-04-25 DOI: 10.1109/VLSI-DAT.2016.7482548 I-Jye Lin, Ming Yang, Kai-Shun Hu

Pub Date : 2016-04-25 DOI: 10.1109/VLSI-DAT.2016.7482578 B. Srinivasarao, I. Chakrabarti

Pub Date : 2016-04-25 DOI: 10.1109/VLSI-DAT.2016.7482560 Yu-Lun Tseng, Kun-Hua Huang, B. Lai

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