2013 IEEE International Instrumentation and Measurement Technology Conference (I2MTC)

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发文信息

Pub Date : 2013-07-15 DOI: 10.1109/I2MTC.2013.6555548 J. Obrzut, O. Kirillov

Pub Date : 2013-07-15 DOI: 10.1109/I2MTC.2013.6555474 Xinyao Sun, Xue Wang, Jiangwei Wu, Youda Liu

Pub Date : 2013-07-15 DOI: 10.1109/I2MTC.2013.6555732 Matteo Bertocco, C. Narduzzi, F. Tramarin, L. Seno, S. Vitturi

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