Экспрессная характеризация кристаллического совершенства структур CdхHg1-xTe методом генерации на отражение второй гармоники зондирующего излучения

Тезисы докладов Российской конференции и школы молодых ученых по актуальным проблемам полупроводниковой фотоэлектроники «ФОТОНИКА-2019» Pub Date : 2019-05-24 DOI:10.34077/rcsp2019-119

{"title":"Экспрессная характеризация кристаллического совершенства структур CdхHg1-xTe\nметодом генерации на отражение второй гармоники зондирующего излучения","authors":"","doi":"10.34077/rcsp2019-119","DOIUrl":null,"url":null,"abstract":"Представлены сравнительные результаты численного моделирования и эксперимента при\nрегистрации азимутальных угловых зависимостей сигнала отраженной от структур CdхHg1-xTe второй\nгармоники при нормальном падении на образец зондирующего лазерного излучения и азимутальном\nвращении плоскости его поляризации. Оценены возможности получения количественной и\nкачественной информации о кристаллическом совершенстве слоев CdхHg1-xTe.","PeriodicalId":118786,"journal":{"name":"Тезисы докладов Российской конференции и школы молодых ученых по актуальным проблемам полупроводниковой фотоэлектроники «ФОТОНИКА-2019»","volume":"20 1","pages":"0"},"PeriodicalIF":0.0000,"publicationDate":"2019-05-24","publicationTypes":"Journal Article","fieldsOfStudy":null,"isOpenAccess":false,"openAccessPdf":"","citationCount":"0","resultStr":null,"platform":"Semanticscholar","paperid":null,"PeriodicalName":"Тезисы докладов Российской конференции и школы молодых ученых по актуальным проблемам полупроводниковой фотоэлектроники «ФОТОНИКА-2019»","FirstCategoryId":"1085","ListUrlMain":"https://doi.org/10.34077/rcsp2019-119","RegionNum":0,"RegionCategory":null,"ArticlePicture":[],"TitleCN":null,"AbstractTextCN":null,"PMCID":null,"EPubDate":"","PubModel":"","JCR":"","JCRName":"","Score":null,"Total":0}

引用次数: 0

Abstract

Представлены сравнительные результаты численного моделирования и эксперимента при регистрации азимутальных угловых зависимостей сигнала отраженной от структур CdхHg1-xTe второй гармоники при нормальном падении на образец зондирующего лазерного излучения и азимутальном вращении плоскости его поляризации. Оценены возможности получения количественной и качественной информации о кристаллическом совершенстве слоев CdхHg1-xTe.

查看原文