DISAIN PERANCANGAN ALAT UJI IC TTL / CMOS UNTUK PENUNJANG LABORATORIUM ELEKTRONIKA DIGITAL

Siswoko Siswoko, Hariyadi Singgih, A. Komarudin
{"title":"DISAIN PERANCANGAN ALAT UJI IC TTL / CMOS UNTUK PENUNJANG LABORATORIUM ELEKTRONIKA DIGITAL","authors":"Siswoko Siswoko, Hariyadi Singgih, A. Komarudin","doi":"10.33795/eltek.v17i2.186","DOIUrl":null,"url":null,"abstract":"         Bentuk IC TTL dan CMOS yang kecil dan memiliki jumlah pin bervariasi membuat orang kesulitan untuk melakukan pengujian kondisi IC TTL dan CMOS secara cepat. Beberapa cara pengujian IC TTL dan CMOS secara manual yakni menggunakan protoboard. Akan tetapi hal tersebut membutuhkan waktu yang cukup lama. Dari permasalahan tersebut, dibutuhkan adanya alat uji yang dapat mempermudah pengguna untuk mengetahui kondisi IC TTL dan CMOS sebelum digunakan. Alat uji IC digital ini dibuat untuk menguji apakah IC yang digunakan dalam keadaan baik atau rusak. Karena jenis IC TTL dan CMOS yang akan diujikan lebih dari satu, maka dalam penelitian ini digunakan keypad sebagai alat untuk menyeleksi IC yang akan diujikan. Keunggulan dari pembuatan alat uji IC ini adalah penyusun dan mengkombinasikan rangkaian dengan menggunakan mikrokontroler AVR Atmega 644 dengan hasil output dapat dilihat pada tampilan di LCD, berupa kondisi dari IC tersebut. Alat uji IC TTL seri 74xxx dan CMOS seri 40xx ini dapat digunakan untuk menguji 100 IC dengan total kesalahan 0%.","PeriodicalId":53405,"journal":{"name":"Jurnal Eltek","volume":" ","pages":""},"PeriodicalIF":0.0000,"publicationDate":"2019-11-11","publicationTypes":"Journal Article","fieldsOfStudy":null,"isOpenAccess":false,"openAccessPdf":"","citationCount":"0","resultStr":null,"platform":"Semanticscholar","paperid":null,"PeriodicalName":"Jurnal Eltek","FirstCategoryId":"1085","ListUrlMain":"https://doi.org/10.33795/eltek.v17i2.186","RegionNum":0,"RegionCategory":null,"ArticlePicture":[],"TitleCN":null,"AbstractTextCN":null,"PMCID":null,"EPubDate":"","PubModel":"","JCR":"","JCRName":"","Score":null,"Total":0}
引用次数: 0

Abstract

         Bentuk IC TTL dan CMOS yang kecil dan memiliki jumlah pin bervariasi membuat orang kesulitan untuk melakukan pengujian kondisi IC TTL dan CMOS secara cepat. Beberapa cara pengujian IC TTL dan CMOS secara manual yakni menggunakan protoboard. Akan tetapi hal tersebut membutuhkan waktu yang cukup lama. Dari permasalahan tersebut, dibutuhkan adanya alat uji yang dapat mempermudah pengguna untuk mengetahui kondisi IC TTL dan CMOS sebelum digunakan. Alat uji IC digital ini dibuat untuk menguji apakah IC yang digunakan dalam keadaan baik atau rusak. Karena jenis IC TTL dan CMOS yang akan diujikan lebih dari satu, maka dalam penelitian ini digunakan keypad sebagai alat untuk menyeleksi IC yang akan diujikan. Keunggulan dari pembuatan alat uji IC ini adalah penyusun dan mengkombinasikan rangkaian dengan menggunakan mikrokontroler AVR Atmega 644 dengan hasil output dapat dilihat pada tampilan di LCD, berupa kondisi dari IC tersebut. Alat uji IC TTL seri 74xxx dan CMOS seri 40xx ini dapat digunakan untuk menguji 100 IC dengan total kesalahan 0%.
查看原文
分享 分享
微信好友 朋友圈 QQ好友 复制链接
本刊更多论文
数字电子实验室用TTL/CMOS集成电路测试仪的定义
TTL和CMOS IC的小形状和不同的引脚数量使人们很难快速测试TTL和CMOS集成电路的状况。一些手动测试IC TTL和CMOS的方法是使用原型板。但这需要很长时间。从这个问题来看,有一种测试工具可以让用户在使用前更容易地确定IC TTL和CMOS的条件。该数字IC测试工具旨在测试IC是否处于良好状态或损坏。由于TTL IC和CMOS的类型将被测试不止一种,因此在本研究中,键盘被用作校正待测试IC的工具。创建此IC测试工具的可能性是在IC条件下,使用Atmega 644 AVR微控制器设计并组合网络,并在LCD上显示可见的输出。74xxx系列TTL IC测试工具和40xx系列CMOS可用于测试100个IC,总误差为0%。
本文章由计算机程序翻译,如有差异,请以英文原文为准。
求助全文
约1分钟内获得全文 去求助
来源期刊
自引率
0.00%
发文量
1
审稿时长
4 weeks
期刊最新文献
Rancang bangun alat kasir barang otomatis berbasis RFID Peningkatan efisiensi sistem PLTS melalui optimasi susunan array panel surya Studi penyebab dan penanganan fail detection pada shinkawa vibration sensors unit circulating water pump di PT. X menggunakan metode root cause failure analysis Analisa response transient cascade control temperature dan pressure pada furnace PT. Z menggunakan metode direct synthesis Sintesis Dan Karakterisasi Material Katoda LiMn0,7Fe0,3-xNixPO4/C Dengan 0 ≤ X ≤ 0,2 Dalam Aplikasi Baterai Litium-Ion
×
引用
GB/T 7714-2015
复制
MLA
复制
APA
复制
导出至
BibTeX EndNote RefMan NoteFirst NoteExpress
×
×
提示
您的信息不完整,为了账户安全,请先补充。
现在去补充
×
提示
您因"违规操作"
具体请查看互助需知
我知道了
×
提示
现在去查看 取消
×
提示
确定
0
微信
客服QQ
Book学术公众号 扫码关注我们
反馈
×
意见反馈
请填写您的意见或建议
请填写您的手机或邮箱
已复制链接
已复制链接
快去分享给好友吧!
我知道了
×
扫码分享
扫码分享
Book学术官方微信
Book学术文献互助
Book学术文献互助群
群 号:481959085
Book学术
文献互助 智能选刊 最新文献 互助须知 联系我们:info@booksci.cn
Book学术提供免费学术资源搜索服务,方便国内外学者检索中英文文献。致力于提供最便捷和优质的服务体验。
Copyright © 2023 Book学术 All rights reserved.
ghs 京公网安备 11010802042870号 京ICP备2023020795号-1