Vis-NIR ve pXRF Spektrometrelerinin Toprak Biliminde Kullanımı

Abstract

Topraklarin geleneksel yontemler ile yapilan fiziksel ve kimyasal analizleri genellikle zaman, maliyet ve kimyasal atik ciktilari nedeniyle cevreye ve ekonomiye bazi dezavantajlar getirmektedir. Bu arastirmanin amaci, i-) toprak biliminde gorunur yakin kizilotesi yansima spektroskopisi (Vis-NIR) ve portatif X isini floresansi (pXRF) spektralarinin giderek yayginlasan kullanim alanlarini belirlemek, ii-) Vis-NIR ve pXRF spektralarinin toprak biliminde kullanilabilecek alanlarin ve Vis-NIR ve pXRF spektralarindan elde edilen etkinligin artirilmasina katki saglamaktir. Vis-NIR ve pXRF spektrasinin topraklarin geleneksel fiziksel ve kimyasal analiz metotlarina gore ustunlukleri; cevre dostu, dusuk maliyetli, herhangi bir kimyasal maddeye ihtiyac olmamasi, toprak orneklerine zarar vermeden hizli sonuc alinmasidir. Bu nedenle toprak ozelliklerinin belirlenmesinde ve tahmin edilmesinde giderek artan oranda kullanilmaktadir. Vis-NIR ve pXRF spektrasi; topraklarin kum, silt ve kil iceriginin, organik karbon, organik madde, kirec, nem icerigi, katyon degisim kapasitesi ve pH’nin tahmin edilmesinde yaygin bir sekilde kullanilmaktadir. Arastirmacilar toprak ozelliklerinin belirlenmesi ve tahmin edilmesinde Vis-NIR ve pXRF spektrasinin bireysel ve birlikte kullanimlarinda oldukca basarili olduklarini rapor etmislerdir. Vis-NIR ve pXRF spektrasinin toprak biliminde kullanim alanlarinin genisletilmesi icin farkli ana materyal, arazi kullanimi, iklim ve bitki ortusu altinda gelisen topraklarda daha fazla arastirmalar yapilarak yontemin ve cihazlarin kalibrasyonlarinin gelistirilmesi gerekmektedir. Boylelikle Vis-NIR ve pXRF spektralari ile toprak ozelliklerinin tahmin ve karakterize edilmesinde basari performansinin artacagi ongorulmektedir.