Олександр Григорович Ушенко, Михайло Петрович Горський, Олександр Володимирович Дуболазов, Олександр Валерійович Олар, Володимир Григорович Олійник, Олександр Генадійович Лінючев
{"title":"Комп’ютерні алгоритми одержання поляризаційних карт для контролю однорідності полімерів у поліграфічній промисловості","authors":"Олександр Григорович Ушенко, Михайло Петрович Горський, Олександр Володимирович Дуболазов, Олександр Валерійович Олар, Володимир Григорович Олійник, Олександр Генадійович Лінючев","doi":"10.20535/2077-7264.1(75).2022.265686","DOIUrl":null,"url":null,"abstract":"У цій науковій статті в стислій та систематичній формі представлено нові результати традиційних методів лазерної поляризаційної інтроспекції для дослідження полікристалічної архітектоніки фазово-неоднорідних полімерних шарів, які, крім лінійного та кругового подвійного променезаломлення, також мають оптично анізотропне поглинання. Такі оптично анізотропні механізми включають лінійний і круговий дихроїзм. Наявність таких механізмів призводить до фазових зсувів між ортогонально (лінійно та циркулярно) поляризованими компонентами складних амплітуд лазерного випромінювання. Це призводить до діагностичної неоднозначності диференціації поляризаційних проявів механізмів подвійного променезаломлення та дихроїзму. Запропоновано новий алгоритм диференціальної реконструкції матриці Мюллера параметрів лінійного та кругового дихроїзму шляхом аналітичного розкладання поляризаційної матриці Мюллера на основі компонент поляризації (диференціальна матриця 1-го порядку) та деполяризації (диференціальна матриця 2-го порядку). Ця робота спрямована на узагальнення методів лазерної поляриметрії на випадок частково деполяризованих оптично анізотропних шарів метилакрилату. Розроблено методику експериментального визначення заданих парціальних матричних операторів та статистичну оцінку реконструйованих координатних розподілів випадкових значень параметрів амплітудної анізотропії. На цій теоретико-експериментальній основі запропоновано та експериментально обґрунтовано метод диференціального відображення матриці Мюллера для відтворення лінійного та кругового подвійного променезаломлення та розподілу параметрів дихроїзму частково деполяризованих шарів метилакрилату. У рамках статистичного підходу визначено найбільш чутливі діагностичні параметри - статистичні моменти вищих порових моментів, які характеризують асиметрію та перевищення координатних розподілів матриці Мюллера над розподілами параметрів лінійного та кругового дихроїзму.","PeriodicalId":52994,"journal":{"name":"Tekhnologiia i tekhnika drukarstva","volume":"36 1","pages":""},"PeriodicalIF":0.0000,"publicationDate":"2022-06-30","publicationTypes":"Journal Article","fieldsOfStudy":null,"isOpenAccess":false,"openAccessPdf":"","citationCount":"0","resultStr":null,"platform":"Semanticscholar","paperid":null,"PeriodicalName":"Tekhnologiia i tekhnika drukarstva","FirstCategoryId":"1085","ListUrlMain":"https://doi.org/10.20535/2077-7264.1(75).2022.265686","RegionNum":0,"RegionCategory":null,"ArticlePicture":[],"TitleCN":null,"AbstractTextCN":null,"PMCID":null,"EPubDate":"","PubModel":"","JCR":"","JCRName":"","Score":null,"Total":0}
引用次数: 0
Abstract
У цій науковій статті в стислій та систематичній формі представлено нові результати традиційних методів лазерної поляризаційної інтроспекції для дослідження полікристалічної архітектоніки фазово-неоднорідних полімерних шарів, які, крім лінійного та кругового подвійного променезаломлення, також мають оптично анізотропне поглинання. Такі оптично анізотропні механізми включають лінійний і круговий дихроїзм. Наявність таких механізмів призводить до фазових зсувів між ортогонально (лінійно та циркулярно) поляризованими компонентами складних амплітуд лазерного випромінювання. Це призводить до діагностичної неоднозначності диференціації поляризаційних проявів механізмів подвійного променезаломлення та дихроїзму. Запропоновано новий алгоритм диференціальної реконструкції матриці Мюллера параметрів лінійного та кругового дихроїзму шляхом аналітичного розкладання поляризаційної матриці Мюллера на основі компонент поляризації (диференціальна матриця 1-го порядку) та деполяризації (диференціальна матриця 2-го порядку). Ця робота спрямована на узагальнення методів лазерної поляриметрії на випадок частково деполяризованих оптично анізотропних шарів метилакрилату. Розроблено методику експериментального визначення заданих парціальних матричних операторів та статистичну оцінку реконструйованих координатних розподілів випадкових значень параметрів амплітудної анізотропії. На цій теоретико-експериментальній основі запропоновано та експериментально обґрунтовано метод диференціального відображення матриці Мюллера для відтворення лінійного та кругового подвійного променезаломлення та розподілу параметрів дихроїзму частково деполяризованих шарів метилакрилату. У рамках статистичного підходу визначено найбільш чутливі діагностичні параметри - статистичні моменти вищих порових моментів, які характеризують асиметрію та перевищення координатних розподілів матриці Мюллера над розподілами параметрів лінійного та кругового дихроїзму.