Surface melting of deuterium hydride thick films

P. Zeppenfeld, M. Bienfait, Feng Liu, O. Vilches, G. Coddens
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Abstract

Quasi-elastic neutron scattering has been used to measure, below the bulk melting temperature, the thickness and the diffusion coefficient of the mobile surface layer of 8 and 10 layer thick films of deuterium hydride (HD) condensed on MgO(100). The measurements show that the close-packed surface of solid HD surface melts gradually, with the thickness of the melted layer increasing from 0.5 to 6 molecular layers as the temperature rises from 4 K to 0.05 K below the bulk melting temperature. The diffusion coefficients are in the 10 −5 cm 2 s −1 range indicating that the surface disordered film is liquid-like Nous avons utilise la diffusion quasi-elastique de neutrons pour mesurer, en dessous de la temperature de fusion, l'epaisseur et le coefficient de diffusion de la couche mobile de surface de films d'epaisseur 8 et 10 couches moleculaires d'hydrure de deuterium (HD) condenses sur MgO(100). Les mesures montrent que la surface compacte de HD solide subit une prefusion avec une epaisseur de la couche fondue variant de 0.5 a 6 couches moleculaires dans le domaine de temperatures s'etendant de 4 K a 0.05 K en dessous du point de fusion (16.604 K). Les coefficients de diffusion tombent dans le domaine des 10 −5 cm 2 s −1 , ce qui indique que la couche de surface desordonnee se comporte comme un liquide
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氢化氘厚膜的表面熔化
采用准弹性中子散射法测量了在体积熔化温度以下MgO(100)上凝聚的8层和10层厚氢化氘(HD)薄膜的可移动面层厚度和扩散系数。测量结果表明,固体HD表面密实堆积表面逐渐熔化,随着温度从低于体熔化温度的4 K升高到0.05 K,熔化层的厚度从0.5增加到6个分子层。扩散系数在10 ~ 5 cm ~ 2 s ~ 1范围内,表明表面无序膜是液体状的。Nous avons利用la扩散准弹性中子流测量仪,通过la温度熔合,l'epaisseur和l'扩散系数la couche移动,d'epaisseur 8和10 couche分子水氘(HD)凝结在MgO(100)上。Les测量了在1次预熔合条件下表面致密化的HD固体,在1次预熔合条件下表面致密化的HD固体,在1次预熔合条件下表面致密化的HD固体,在1次预熔合条件下表面致密化的HD固体,在1次预熔合条件下表面致密化的HD固体,在1次预熔合条件下表面致密化的HD固体,在1次预熔合条件下表面致密化的HD固体,在1次预熔合条件下表面致密化的HD固体,在1次预熔合条件下表面致密化的HD固体
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