{"title":"晶体完美结构cdhhg1 - xtete法反映探测辐射第二谐波","authors":"","doi":"10.34077/rcsp2019-119","DOIUrl":null,"url":null,"abstract":"Представлены сравнительные результаты численного моделирования и эксперимента при\nрегистрации азимутальных угловых зависимостей сигнала отраженной от структур CdхHg1-xTe второй\nгармоники при нормальном падении на образец зондирующего лазерного излучения и азимутальном\nвращении плоскости его поляризации. Оценены возможности получения количественной и\nкачественной информации о кристаллическом совершенстве слоев CdхHg1-xTe.","PeriodicalId":118786,"journal":{"name":"Тезисы докладов Российской конференции и школы молодых ученых по актуальным проблемам полупроводниковой фотоэлектроники «ФОТОНИКА-2019»","volume":"20 1","pages":"0"},"PeriodicalIF":0.0000,"publicationDate":"2019-05-24","publicationTypes":"Journal Article","fieldsOfStudy":null,"isOpenAccess":false,"openAccessPdf":"","citationCount":"0","resultStr":"{\"title\":\"Экспрессная характеризация кристаллического совершенства структур CdхHg1-xTe\\nметодом генерации на отражение второй гармоники зондирующего излучения\",\"authors\":\"\",\"doi\":\"10.34077/rcsp2019-119\",\"DOIUrl\":null,\"url\":null,\"abstract\":\"Представлены сравнительные результаты численного моделирования и эксперимента при\\nрегистрации азимутальных угловых зависимостей сигнала отраженной от структур CdхHg1-xTe второй\\nгармоники при нормальном падении на образец зондирующего лазерного излучения и азимутальном\\nвращении плоскости его поляризации. Оценены возможности получения количественной и\\nкачественной информации о кристаллическом совершенстве слоев CdхHg1-xTe.\",\"PeriodicalId\":118786,\"journal\":{\"name\":\"Тезисы докладов Российской конференции и школы молодых ученых по актуальным проблемам полупроводниковой фотоэлектроники «ФОТОНИКА-2019»\",\"volume\":\"20 1\",\"pages\":\"0\"},\"PeriodicalIF\":0.0000,\"publicationDate\":\"2019-05-24\",\"publicationTypes\":\"Journal Article\",\"fieldsOfStudy\":null,\"isOpenAccess\":false,\"openAccessPdf\":\"\",\"citationCount\":\"0\",\"resultStr\":null,\"platform\":\"Semanticscholar\",\"paperid\":null,\"PeriodicalName\":\"Тезисы докладов Российской конференции и школы молодых ученых по актуальным проблемам полупроводниковой фотоэлектроники «ФОТОНИКА-2019»\",\"FirstCategoryId\":\"1085\",\"ListUrlMain\":\"https://doi.org/10.34077/rcsp2019-119\",\"RegionNum\":0,\"RegionCategory\":null,\"ArticlePicture\":[],\"TitleCN\":null,\"AbstractTextCN\":null,\"PMCID\":null,\"EPubDate\":\"\",\"PubModel\":\"\",\"JCR\":\"\",\"JCRName\":\"\",\"Score\":null,\"Total\":0}","platform":"Semanticscholar","paperid":null,"PeriodicalName":"Тезисы докладов Российской конференции и школы молодых ученых по актуальным проблемам полупроводниковой фотоэлектроники «ФОТОНИКА-2019»","FirstCategoryId":"1085","ListUrlMain":"https://doi.org/10.34077/rcsp2019-119","RegionNum":0,"RegionCategory":null,"ArticlePicture":[],"TitleCN":null,"AbstractTextCN":null,"PMCID":null,"EPubDate":"","PubModel":"","JCR":"","JCRName":"","Score":null,"Total":0}
Экспрессная характеризация кристаллического совершенства структур CdхHg1-xTe
методом генерации на отражение второй гармоники зондирующего излучения
Представлены сравнительные результаты численного моделирования и эксперимента при
регистрации азимутальных угловых зависимостей сигнала отраженной от структур CdхHg1-xTe второй
гармоники при нормальном падении на образец зондирующего лазерного излучения и азимутальном
вращении плоскости его поляризации. Оценены возможности получения количественной и
качественной информации о кристаллическом совершенстве слоев CdхHg1-xTe.
京公网安备 11010802042870号
京ICP备2023020795号-1
分享
求助内容：
应助结果提醒方式：
扫码关注我们
