2013 IEEE 31st VLSI Test Symposium (VTS)

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发文信息

Pub Date : 2013-06-27 DOI: 10.1109/VTS.2013.6548902 Bo Yao, Arani Sinha, I. Pomeranz

Pub Date : 2013-04-29 DOI: 10.1109/VTS.2013.6548915 Kihyuk Han, Joon-Sung Yang, J. Abraham

Pub Date : 2013-04-29 DOI: 10.1109/VTS.2013.6548942 A. Chandra

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