Proceedings of the 2002 International Conference on Microelectronic Test Structures, 2002. ICMTS 2002.

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发文信息

Pub Date : 2002-04-08 DOI: 10.1109/ICMTS.2002.1193189 S. Smith, A. Walton, S. Bond, A. Ross, J. Stevenson, A. Gundlach

Pub Date : 2002-04-08 DOI: 10.1109/ICMTS.2002.1193177 D. Szmyd, L. Gambus, A. Wilbanks

Pub Date : 2002-04-08 DOI: 10.1109/ICMTS.2002.1193168 W. Rahajandraibe, C. Dufaza, D. Auvergne, B. Cialdella, B. Majoux, V. Chowdhury

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