2015 IEEE Workshop on Microelectronics and Electron Devices (WMED)

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Controlled Formation of Square Crack in Thinned 3DI Silicon Wafers

Pub Date : 2015-03-20 DOI: 10.1109/WMED.2015.7093689 A. Abdelnaby, R. Parker, Pavani Chennapragada, S. Vadhavkar, Wayne Huang, M. Brand, S. Varghese, Ross Dando

Low-Noise CMOS Bandgap Reference Generator Using Two-Level Chopping Technique

Pub Date : 2015-03-20 DOI: 10.1109/WMED.2015.7093954 Bingxing Wu, S. Ay

"Atomistic" Dopant Profiling Using Scanning Capacitance Microscopy

Pub Date : 2015-03-20 DOI: 10.1109/WMED.2015.7093691 S. Aghaei, P. Andrei, M. Hagmann

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