International Symposium for Testing and Failure Analysis

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Application of Plasma Focused Ion Beam Technique in Advanced Technology Nodes

Pub Date : 2022-10-30 DOI: 10.31399/asm.cp.istfa2022p0092 Liangshan Chen, Amado Longoria, Gina Cha, Gilbert Tovar, Elena Ramirez, Pingan Fang, Yong Liu, Andres Torres, Marco Alcantara, C. Penley

Transmission Electron Microscopy (TEM) Techniques for Semiconductor Failure Analysis

Pub Date : 2022-10-30 DOI: 10.31399/asm.cp.istfa2022tpl1 Sam Subramanian, K. Ly, Tony Chrastecky

A Multi-Protocol Module To Provide An External Trigger For Dynamic Lock-In Thermography

Pub Date : 2022-10-30 DOI: 10.31399/asm.cp.istfa2022p0333 R. Bienek

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