Investigations on Plasma Interactions with Soft Materials for Fabrication of Flexible Devices

Ken Cho, Y. Setsuhara, K. Takenaka, M. Shiratani, M. Sekine, M. Hori
{"title":"Investigations on Plasma Interactions with Soft Materials for Fabrication of Flexible Devices","authors":"Ken Cho, Y. Setsuhara, K. Takenaka, M. Shiratani, M. Sekine, M. Hori","doi":"10.7791/JHTS.37.289","DOIUrl":null,"url":null,"abstract":"フレキシブルディスプレイ 、薄膜太陽電池 、さらには 次世代医療デバイス などの次世代デバイスは、既存のデ バイスのフレキシブル化や軽量化、低コスト化に資する技 術として注目を集めている。これら次世代デバイスの多く は、有機材料と無機材料をハイブリット化することによっ て創製される。そのため、次世代デバイスの創製には有機 材料をナノレベルの精度で加工する技術に加え、機能性無 機材料を有機材料上に低温で形成する技術の開発が求めら れている。こういった低温かつ低ダメージなプロセスを実 現するため、プラズマによる反応性向上を利用したプロセ ス技術の開発が期待されている。一方、有機材料の分子構 造を形成する C-CH3結合、O-C ( = O)結合、C = O結合の 結合解離エネルギーはそれぞれ 3.6 eV、3.4 eV、8.4 eVで あり、いずれも 10 eV以下となっている 。そのため、プ ラズマ中のイオン 、ラジカル 6, 、光 、電子 への曝露 により、各有機材料の特長的な性質を決定する官能基が解 離し、本来の特長を維持できなくなることが懸念される。 例えば、有機半導体のフェニル基をはじめとする 共役結 合へのダメージは、電気的特性に深刻な影響を与え、O C ( = O)結合及び C = O結合の解離は、透明性や柔軟性に影 響を及ぼすことが懸念される。このため、低温かつ低ダメー ジのプラズマプロセスの実現には、プラズマ中のイオンや ラジカル、光、電子が有機材料に対して、どのような影響 を及ぼすかを解明した上で、その理解に基づき、プロセス (Received September 9, 2011)","PeriodicalId":113412,"journal":{"name":"Journal of High Temperature Society","volume":"22 3 Suppl 6 1","pages":"0"},"PeriodicalIF":0.0000,"publicationDate":"2011-11-20","publicationTypes":"Journal Article","fieldsOfStudy":null,"isOpenAccess":false,"openAccessPdf":"","citationCount":"3","resultStr":null,"platform":"Semanticscholar","paperid":null,"PeriodicalName":"Journal of High Temperature Society","FirstCategoryId":"1085","ListUrlMain":"https://doi.org/10.7791/JHTS.37.289","RegionNum":0,"RegionCategory":null,"ArticlePicture":[],"TitleCN":null,"AbstractTextCN":null,"PMCID":null,"EPubDate":"","PubModel":"","JCR":"","JCRName":"","Score":null,"Total":0}
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Abstract

フレキシブルディスプレイ 、薄膜太陽電池 、さらには 次世代医療デバイス などの次世代デバイスは、既存のデ バイスのフレキシブル化や軽量化、低コスト化に資する技 術として注目を集めている。これら次世代デバイスの多く は、有機材料と無機材料をハイブリット化することによっ て創製される。そのため、次世代デバイスの創製には有機 材料をナノレベルの精度で加工する技術に加え、機能性無 機材料を有機材料上に低温で形成する技術の開発が求めら れている。こういった低温かつ低ダメージなプロセスを実 現するため、プラズマによる反応性向上を利用したプロセ ス技術の開発が期待されている。一方、有機材料の分子構 造を形成する C-CH3結合、O-C ( = O)結合、C = O結合の 結合解離エネルギーはそれぞれ 3.6 eV、3.4 eV、8.4 eVで あり、いずれも 10 eV以下となっている 。そのため、プ ラズマ中のイオン 、ラジカル 6, 、光 、電子 への曝露 により、各有機材料の特長的な性質を決定する官能基が解 離し、本来の特長を維持できなくなることが懸念される。 例えば、有機半導体のフェニル基をはじめとする 共役結 合へのダメージは、電気的特性に深刻な影響を与え、O C ( = O)結合及び C = O結合の解離は、透明性や柔軟性に影 響を及ぼすことが懸念される。このため、低温かつ低ダメー ジのプラズマプロセスの実現には、プラズマ中のイオンや ラジカル、光、電子が有機材料に対して、どのような影響 を及ぼすかを解明した上で、その理解に基づき、プロセス (Received September 9, 2011)
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