Кристаллическая структура и преобладающие дефекты в квантовых точках CdS, сформированных методом Ленгмюра-Блоджетт

ФОТОНИКА-2021 : ТЕЗИСЫ ДОКЛАДОВ РОССИЙСКОЙ КОНФЕРЕНЦИИ И ШКОЛЫ МОЛОДЫХ УЧЕНЫХ ПО АКТУАЛЬНЫМ ПРОБЛЕМАМ ПОЛУПРОВОДНИКОВОЙ ФОТОЭЛЕКТРОНИКИ Pub Date : 2021-09-27 DOI:10.34077/rcsp2021-62

К.А. Свит, К. А. Зарубанов, Т. А. Дуда

{"title":"Кристаллическая структура и преобладающие дефекты в квантовых точках CdS,\nсформированных методом Ленгмюра-Блоджетт","authors":"К.А. Свит, К. А. Зарубанов, Т. А. Дуда","doi":"10.34077/rcsp2021-62","DOIUrl":null,"url":null,"abstract":"В данной работе кристаллическая структура и форма КТ CdS, полученных методом ЛенгмюраБлоджетт, изучались методами просвечивающей электронной микроскопии, спектроскопии тонкой\nструктуры расширенного поглощения рентгеновских лучей (EXAFS) и ультрафиолетовой\nспектроскопии. Для определения\nпреобладающих дефектов поверхности\nиспользовались методы рентгеновской\nфотоэлектронной спектроскопии (XPS) и\nстационарной фотолюминесцентной\nспектроскопии (ФЛ).","PeriodicalId":356596,"journal":{"name":"ФОТОНИКА-2021 : ТЕЗИСЫ ДОКЛАДОВ РОССИЙСКОЙ КОНФЕРЕНЦИИ И ШКОЛЫ МОЛОДЫХ УЧЕНЫХ ПО АКТУАЛЬНЫМ ПРОБЛЕМАМ ПОЛУПРОВОДНИКОВОЙ ФОТОЭЛЕКТРОНИКИ","volume":"70 1","pages":"0"},"PeriodicalIF":0.0000,"publicationDate":"2021-09-27","publicationTypes":"Journal Article","fieldsOfStudy":null,"isOpenAccess":false,"openAccessPdf":"","citationCount":"0","resultStr":null,"platform":"Semanticscholar","paperid":null,"PeriodicalName":"ФОТОНИКА-2021 : ТЕЗИСЫ ДОКЛАДОВ РОССИЙСКОЙ КОНФЕРЕНЦИИ И ШКОЛЫ МОЛОДЫХ УЧЕНЫХ ПО АКТУАЛЬНЫМ ПРОБЛЕМАМ ПОЛУПРОВОДНИКОВОЙ ФОТОЭЛЕКТРОНИКИ","FirstCategoryId":"1085","ListUrlMain":"https://doi.org/10.34077/rcsp2021-62","RegionNum":0,"RegionCategory":null,"ArticlePicture":[],"TitleCN":null,"AbstractTextCN":null,"PMCID":null,"EPubDate":"","PubModel":"","JCR":"","JCRName":"","Score":null,"Total":0}

引用次数: 0

Abstract

В данной работе кристаллическая структура и форма КТ CdS, полученных методом ЛенгмюраБлоджетт, изучались методами просвечивающей электронной микроскопии, спектроскопии тонкой структуры расширенного поглощения рентгеновских лучей (EXAFS) и ультрафиолетовой спектроскопии. Для определения преобладающих дефектов поверхности использовались методы рентгеновской фотоэлектронной спектроскопии (XPS) и стационарной фотолюминесцентной спектроскопии (ФЛ).

查看原文