Mikrodenetleyici Tabanlı Esnek, Güçlü Dijital Gecikmeli Darbe Üreteci Sistem Tasarımı ve Optoelektronik Uygulamaları

Uluslararası Muhendislik Arastirma ve Gelistirme Dergisi Pub Date : 2023-01-26 DOI:10.21205/deufmd.2023257320

Tayyar Güngör, Ebru Güngör

{"title":"Mikrodenetleyici Tabanlı Esnek, Güçlü Dijital Gecikmeli Darbe Üreteci Sistem Tasarımı ve Optoelektronik Uygulamaları","authors":"Tayyar Güngör, Ebru Güngör","doi":"10.21205/deufmd.2023257320","DOIUrl":null,"url":null,"abstract":"Bu çalışmada, esas olarak mikrodenetleyici tabanlı çok kanallı ve kanal genişliği ayarlanabilen bir dijital geçikmeli darbe üreteci (DGDÜ) tasarımı gerçekleştirilmiştir. Bu sistemde mikrodenetleyici (PIC18F4550), kristal osilatör (8 MHz) ve 4 giriş 16 çıkışlı kodlayıcı/kodçözücü entegresi (74LS154) kullanarak 1µs-1s arasında 25 farklı genişlikte zaman-taban sinyalleri üretilmiştir. Tetikleme sinyalinden sonra seçilen zaman-taban genişliğinde ardışık olarak 32 kanallı zaman-geçiktirme dijital darbe sinyalleri elde edilmiştir. DGDÜ sistemi, ilk olarak genlik-zaman bağımlılığı bilinen referans üçgensel sinyalin bir tam periyodu içinde seçilen iki zaman pencere değerine karşı gelen sinyal genlik değerlerinin 2-kanallı örnekle-tut devresinin de bulunduğu Sinyal Analiz Birimi (SAB) ile test edilmiştir. Elde edilen sonuçların bilinen gerçek değerler ile karşılaştırılması yapılmıştır. Sonuçların uyumlu olduğu gözlenmiştir. Daha sonra ticari bir ürün olan ve ışığa duyarlı bir direnç (LDR) için oda sıcaklığında, kesikli aydınlatma ile oluşan foto-akımın zamanla matematiksel formunun belirlenmesi için kullanılmıştır. Sonuç olarak, bu yeni mikrodenetleyici tabanlı çok kanallı DGDÜ ve SAB ile hızlı, işlevsel ve esnek özellikleri olan bir otomatik veri toplama sistemi gerçekleştirilmiştir. Ayrıca derin seviyeli transient spektroskopi (DLTS), foto-uyarımlı akım transiyent spektroskopisi (PICTS) gibi yarıiletken mazlemelerin karakterizasyonları için kullanımı kolay ve ticari çift-örnekleme sistemlerine göre daha ucuz olması nedeniyle tercih edilebilir bir sistemdir.","PeriodicalId":23481,"journal":{"name":"Uluslararası Muhendislik Arastirma ve Gelistirme Dergisi","volume":"22 1","pages":""},"PeriodicalIF":0.0000,"publicationDate":"2023-01-26","publicationTypes":"Journal Article","fieldsOfStudy":null,"isOpenAccess":false,"openAccessPdf":"","citationCount":"0","resultStr":null,"platform":"Semanticscholar","paperid":null,"PeriodicalName":"Uluslararası Muhendislik Arastirma ve Gelistirme Dergisi","FirstCategoryId":"1085","ListUrlMain":"https://doi.org/10.21205/deufmd.2023257320","RegionNum":0,"RegionCategory":null,"ArticlePicture":[],"TitleCN":null,"AbstractTextCN":null,"PMCID":null,"EPubDate":"","PubModel":"","JCR":"","JCRName":"","Score":null,"Total":0}

引用次数: 0

Abstract

Bu çalışmada, esas olarak mikrodenetleyici tabanlı çok kanallı ve kanal genişliği ayarlanabilen bir dijital geçikmeli darbe üreteci (DGDÜ) tasarımı gerçekleştirilmiştir. Bu sistemde mikrodenetleyici (PIC18F4550), kristal osilatör (8 MHz) ve 4 giriş 16 çıkışlı kodlayıcı/kodçözücü entegresi (74LS154) kullanarak 1µs-1s arasında 25 farklı genişlikte zaman-taban sinyalleri üretilmiştir. Tetikleme sinyalinden sonra seçilen zaman-taban genişliğinde ardışık olarak 32 kanallı zaman-geçiktirme dijital darbe sinyalleri elde edilmiştir. DGDÜ sistemi, ilk olarak genlik-zaman bağımlılığı bilinen referans üçgensel sinyalin bir tam periyodu içinde seçilen iki zaman pencere değerine karşı gelen sinyal genlik değerlerinin 2-kanallı örnekle-tut devresinin de bulunduğu Sinyal Analiz Birimi (SAB) ile test edilmiştir. Elde edilen sonuçların bilinen gerçek değerler ile karşılaştırılması yapılmıştır. Sonuçların uyumlu olduğu gözlenmiştir. Daha sonra ticari bir ürün olan ve ışığa duyarlı bir direnç (LDR) için oda sıcaklığında, kesikli aydınlatma ile oluşan foto-akımın zamanla matematiksel formunun belirlenmesi için kullanılmıştır. Sonuç olarak, bu yeni mikrodenetleyici tabanlı çok kanallı DGDÜ ve SAB ile hızlı, işlevsel ve esnek özellikleri olan bir otomatik veri toplama sistemi gerçekleştirilmiştir. Ayrıca derin seviyeli transient spektroskopi (DLTS), foto-uyarımlı akım transiyent spektroskopisi (PICTS) gibi yarıiletken mazlemelerin karakterizasyonları için kullanımı kolay ve ticari çift-örnekleme sistemlerine göre daha ucuz olması nedeniyle tercih edilebilir bir sistemdir.

查看原文