23rd IEEE VLSI Test Symposium (VTS'05)

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发文信息

Pub Date : 2005-05-01 DOI: 10.1109/VTS.2005.56 Gurgen Harutunyan, V. Vardanian, Y. Zorian

Pub Date : 2005-05-01 DOI: 10.1109/VTS.2005.6 Y. Wen

Pub Date : 2005-05-01 DOI: 10.1109/VTS.2005.35 K. Mohanram

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