2010 IEEE Radiation Effects Data Workshop

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Radiation Test of 8 Bit Microcontrollers ATmega128 & AT90CAN128

Pub Date : 2010-07-20 DOI: 10.1109/REDW.2010.5619504 A. Schuttauf, S. Rakers, C. Daniel

Radiation Hardness Characterization of a 130nm ASIC Library Technology

Pub Date : 2010-07-20 DOI: 10.1109/REDW.2010.5619510 Radu Dumitru, C. Hafer, Tzu-Wen Wu, R. Rominger, H. Gardner, P. Milliken, Kevin Bruno, T. Farris

Single Event and Low Dose-Rate TID Effects in the DS16F95 RS-485 Transceiver

Pub Date : 2010-07-20 DOI: 10.1109/REDW.2010.5619503 A. Kelly, P. Fleming, Ronald D. Brown, Frankie Wong

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