2015 International Semiconductor Conference (CAS)

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A study to improve IGBT reliability in power electronics applications

Pub Date : 2015-12-17 DOI: 10.1109/SMICND.2015.7355149 V. Sundaramoorthy, E. Bianda, G. Riedel

High temperature sensors based on silicon carbide (SiC) devices

Pub Date : 2015-12-17 DOI: 10.1109/SMICND.2015.7355147 G. Brezeanu, M. Badila, F. Draghici, R. Pascu, G. Pristavu, F. Craciunoiu, I. Rusu

Pressure sensors based on high frequency operating GaN FBARs

Pub Date : 2015-12-17 DOI: 10.1109/SMICND.2015.7355174 I. Giangu, G. Stavrinidis, A. Stefanescu, A. Stavrinidis, A. Dinescu, G. Konstantinidis, A. Muller

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