Positron Trapping in Deformed Gd

J. Río, N. Diego, C. Hidalgo
{"title":"Positron Trapping in Deformed Gd","authors":"J. Río, N. Diego, C. Hidalgo","doi":"10.1002/CRAT.2170221222","DOIUrl":null,"url":null,"abstract":"Positron lifetime and Doppler broadening measurements have been used to study the annealing behaviour of deformed Gd between 290 and 700 K. The observed recovery stage at about 370 K is attributed to dislocations annealing. \n \n \n \nPositronenlebensdauer- und Annihilationslinienbreite-Messungen wurden angewandt, um das Verhalten von verformtem Gd im Temperaturbereich zwischen 290 und 700 K zu untersuchen. Bei etwa 370 K heilen Defekte aus, die durch Verformung erzeugt wurden. Diese Defekte werden als Versetzungen identifiziert, die mit Fremdatomen dekoriert sind.","PeriodicalId":10994,"journal":{"name":"December 2021","volume":null,"pages":null},"PeriodicalIF":0.0000,"publicationDate":"1987-12-01","publicationTypes":"Journal Article","fieldsOfStudy":null,"isOpenAccess":false,"openAccessPdf":"","citationCount":"0","resultStr":null,"platform":"Semanticscholar","paperid":null,"PeriodicalName":"December 2021","FirstCategoryId":"1085","ListUrlMain":"https://doi.org/10.1002/CRAT.2170221222","RegionNum":0,"RegionCategory":null,"ArticlePicture":[],"TitleCN":null,"AbstractTextCN":null,"PMCID":null,"EPubDate":"","PubModel":"","JCR":"","JCRName":"","Score":null,"Total":0}
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Abstract

Positron lifetime and Doppler broadening measurements have been used to study the annealing behaviour of deformed Gd between 290 and 700 K. The observed recovery stage at about 370 K is attributed to dislocations annealing. Positronenlebensdauer- und Annihilationslinienbreite-Messungen wurden angewandt, um das Verhalten von verformtem Gd im Temperaturbereich zwischen 290 und 700 K zu untersuchen. Bei etwa 370 K heilen Defekte aus, die durch Verformung erzeugt wurden. Diese Defekte werden als Versetzungen identifiziert, die mit Fremdatomen dekoriert sind.
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